丙酮擦拭測(cè)試：鑒別IC印字是否重新打標(biāo)。

　　

　　電性能測(cè)試：使用IC測(cè)試系統(tǒng)對(duì)器件的管腳進(jìn)行直流參數(shù)測(cè)試，包括管腳開路，短路等，進(jìn)而分析器件性能。

　　

　　器件上電測(cè)試：對(duì)器件的VCC,VDD,GND等管腳加激勵(lì)電源，測(cè)試靜態(tài)電流，輸出電流等。

　　

　　功能測(cè)試，關(guān)鍵功能測(cè)試(KFT)：根據(jù)原廠PDF規(guī)格書，對(duì)器件的關(guān)鍵功能進(jìn)行測(cè)試驗(yàn)證，看是否符合規(guī)格書的要求，器件所施加的激勵(lì)完全參照規(guī)格書，該測(cè)試最準(zhǔn)確地反映出該IC是否可使用，很多舊料(翻新)，IC的外觀存在缺陷，通過此測(cè)試可知道該器件是否可以再次使用。包括對(duì)一些基本器件，如：電源管理電壓的轉(zhuǎn)換，AD,DA數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換，放大器信號(hào)放大傳輸，存儲(chǔ)器存儲(chǔ)單元的好壞等。

　　

　　環(huán)保測(cè)試，ROHS測(cè)試：有害化學(xué)物質(zhì)檢測(cè)，鉛（Pb）汞（Hg）鎘（Cd）六價(jià)鉻（Cr6+）多溴聯(lián)苯（PBB）多溴聯(lián)苯醚（PBDE）等元素和物質(zhì)，看是否超出國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)。

　　

　　仿冒元器件危害可大可小，不可小覷，這些仿冒電源管理ic多為一些通用器件，主要集中在中低端區(qū)域，隨著仿冒電源管理芯片的不斷增長(zhǎng)及仿冒技術(shù)的不斷提升，這也對(duì)采購(gòu)商提出了更大的挑戰(zhàn)，同時(shí)也意味著電子行業(yè)要消除仿冒元器件帶來的惡劣影響需要付出更多的努力。